聚焦PLP與3D整合先進封裝 科林研發深化對台灣在地客戶技術支援

克服先進封裝帶來的挑戰並沒有單一解決方法,而是系統層級的整合與最佳化問題。

飛速發展的AI應用持續推升晶片的運算密度、記憶體頻寬及資料傳輸需求,半導體先進封裝也從過去延續摩爾定律(Moore’s Law)的輔助方案,逐漸成為決定AI系統效能、功耗與量產成本的關鍵技術。

在SEMICON Taiwan 2026期間舉行的媒體說明會上,科林研發(Lam Research)企業策略暨先進封裝資深副總裁Audrey Charles就表示,AI帶來的需求並非短期循環,而是結構性的技術轉變。過去業者可能以兩年為產品更新週期,如今已縮短至一年一次產品更新,甚至朝向一年兩次產品更新的趨勢發展。面對更快的創新速度,晶片微縮仍會持續,但系統擴展已不能只依賴電晶體尺寸縮小,而必須結合3D整合、HBM、混合鍵合及2.5D封裝等技術,從整體系統層級提升運算密度、記憶體頻寬與能源效率。

她指出,當前AI運算面臨的主要瓶頸,包括如何在有限空間內提高運算密度、加快資料進出處理器與記憶體的速度、降低整體功耗,以及處理高功率晶片衍生的散熱問題。隨著GPU、CPU、xPUs、3D邏輯晶片、HBM,以及共同封裝光學(CPO)元件被整合至中介層(interposer),再連接至封裝基板,晶片之間需要建立數量更多、尺寸更小且密度更高的互連。這些結構必須仰賴矽穿孔(TSV)、混合鍵合、微凸塊及2.5/3D封裝等技術,任何一個製程步驟的偏差,都可能影響封裝效能與最終良率。

對此Charles強調,克服先進封裝帶來的挑戰並沒有單一解決方法,而是系統層級的整合與最佳化問題。從沉積薄膜、蝕刻高深寬比結構,到利用電化學沉積填入銅等金屬,再到光阻去除與濕式清洗,每個步驟都必須相互配合。科林研發可將過去超過40年累積於晶圓前段製程的蝕刻、沉積與清洗技術,延伸至晶圓級和面板級封裝,支援TSV、重布線層(RDL)、微凸塊、混合鍵合及其他高密度互連結構。

她進一步表示,科林研發的優勢不只在於提供個別設備,而是產品組合能涵蓋AI封裝製程中的多個關鍵節點。透過對蝕刻、沉積、金屬填充與濕式製程之間交互影響的理解,設備商可與客戶共同調整製程參數,改善薄膜均勻度、互連完整性與缺陷控制,協助新一代封裝架構更快由技術開發進入量產。這項跨製程整合能力,也成為科林研發因應3D晶片堆疊、HBM與大型面板級封裝(Panel-Level Packaging,PLP)等新一代技術挑戰的主要佈局。

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